本標準規(guī)定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點陣結構或 X 射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。 本標準適用于記錄在照相膠片上、或成像板上、或數(shù)字相機內置傳感
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