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半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 4377-2018
替代情況： 替代 GB/T 4377-1996
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 北京宇翔電子有限公司等
發(fā)布日期： 2018-03-15
實(shí)施日期： 2018-08-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年05月18日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓調(diào)整器（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域中電壓調(diào)整器參數(shù)的測試。

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