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硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 13388-2009
替代情況: 替代 GB/T 13388-1992
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 有研半導(dǎo)體材料股份有限公司
發(fā)布日期: 2009-10-30
實施日期: 2010-06-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2025年02月26日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了α角的測量方法,α角為垂直于圓型硅片基準(zhǔn)參考平面的晶向與硅片表面參考面間角。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅片的參考面長度范圍應(yīng)符合GB/T 12964和GB/T 12965中的規(guī)定,且硅片角度偏離應(yīng)在-5°到+5°范圍之內(nèi)。

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