本文件描述了運(yùn)用直流或低掃場(chǎng)速率磁強(qiáng)計(jì)方法測(cè)量Cu/Nb-Ti多絲復(fù)合材料磁滯損耗的相關(guān)事宜。本文件規(guī)定了Cu/Nb-Ti多絲復(fù)合導(dǎo)體中磁滯損耗的一種測(cè)量方法。測(cè)量在溫度為4.2 K或接近于4.2 K的圓形截面超導(dǎo)線上進(jìn)行。直流或低掃場(chǎng)速率磁強(qiáng)計(jì)法使用的是超導(dǎo)量子干涉器件（SQUID）磁強(qiáng)計(jì)（見附錄A）或振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)（VSM）。如果測(cè)量中發(fā)現(xiàn)用不同的（但均校準(zhǔn)過的）磁強(qiáng)計(jì)所得的結(jié)果存在差異，則以外推至零掃場(chǎng)速率下的VSM測(cè)量結(jié)果為準(zhǔn)。將本測(cè)量方法推廣到一般超導(dǎo)體的規(guī)范詳見附錄B。