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異質外延層和硅多晶層厚度的測量方法

標 準 號: YS/T 14-2015
替代情況: 替代 YS/T 14-1991
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 南京國盛電子有限公司等
發(fā)布日期: 2015-04-30
實施日期: 2015-10-01
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更新日期: 2019年05月13日
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內容摘要

本標準規(guī)定了異質外延層和硅多晶層厚度的測量方法。
本標準適用于測量襯底與沉積層之間界面層厚度小于100nm的異質外延層和硅多晶層的厚度,測量范圍為1μm~100μm。

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