本規(guī)范適用于符合GB/T17626.11—2008 《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》、GB/T17626.29—2006 《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》、IEC61000-4-11:2004 《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)》及IEC61000-4-29:2000 《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》中要求的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化試驗(yàn)發(fā)生器[包括單相電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化試驗(yàn)發(fā)生器(又稱單相電壓跌落發(fā)生器)和直流電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化試驗(yàn)發(fā)生器(又稱直流電壓跌落發(fā)生器)]的校準(zhǔn)。