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微波元器件低溫環(huán)境下S參數測試方法

標 準 號： SJ 21343-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 國家國防科技工業(yè)局
起草單位： 中國電子科技集團公司
發(fā)布日期： 2018-01-18
實施日期： 2018-05-01
點 擊 數：
更新日期： 2022年09月20日
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內容摘要

本標準規(guī)定了微波元器件低溫環(huán)境下參數的測試方法。


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