本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了OLED產(chǎn)品殘像試驗(yàn)方法和壽命測(cè)試方法。標(biāo)準(zhǔn)的范圍為OLED顯示器的屏體和模組。殘像試驗(yàn)方法充分考慮了不同應(yīng)用情況的顯示器的異同點(diǎn)，對(duì)殘像的測(cè)試圖形，以及殘像最終的表示方法都有明確和科學(xué)的規(guī)定。壽命測(cè)試方法主要針對(duì)亮度衰減進(jìn)行了相關(guān)規(guī)定，同時(shí)還通過(guò)附錄的形式采用了加速衰減的方式并可通過(guò)公式去推算顯示器的壽命。